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Article cité :

Interference microscope objectives for wide-field areal surface topography measurements

Peter J. de Groot and James F. Biegen
Optical Engineering 55 (7) 074110 (2016)
https://doi.org/10.1117/1.OE.55.7.074110

Principles of interference microscopy for the measurement of surface topography

Peter de Groot
Advances in Optics and Photonics 7 (1) 1 (2015)
https://doi.org/10.1364/AOP.7.000001

Picosecond photoacoustics using common-path interferometry

Mehrdad Nikoonahad, Shing Lee and Haiming Wang
Applied Physics Letters 76 (4) 514 (2000)
https://doi.org/10.1063/1.125805